01｜检测需求：金属隔膜重复性测量
02｜检测方式
为了保证精度，首先先用千分尺进行测量，得出相应的厚度数据，在选择合适的侧头，根据结果，我们现在立仪科技H4UO控制器搭配D27A20侧头
03｜千分尺测量结果
经过测量可以厚度是84微米
04｜光谱共焦测量结果
经过测量可以厚度83.417μm
05｜60秒内重复精度展示（部分）
60秒内重复精度展示（部分）
06｜光谱共焦侧头
D27A20侧头相关参数
本站资源均来自互联网，仅供研究学习，禁止违法使用和商用，产生法律纠纷本站概不负责！如果侵犯了您的权益请与我们联系！
转载请注明出处： 免费源码网-免费的源码资源网站 » 立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量
发表评论 取消回复